info@scietex.ru +7 499 911 90 01

Настольный сканирующий электронный микроскоп SEM Motic NanoScan TT

Настольный сканирующий электронный микроскоп Motic Easy Nanoscan TT, отличающийся улучшенной электронной колонной, большим увеличением и встроенной обработкой изображений для повышения качества получаемых изображений и лучшего разрешения. Идеально подходит для получения изображений морфологии поверхности, а в сочетании с EDS представляет собой мощный инструмент как для визуализации, так и для элементного анализа состава материалов.

    • Увеличение до, x: 54–17 280
    • Измерения по оси Z: 12 нм

Описание

Настольный сканирующий электронный микроскоп Motic Easy Nanoscan TT, отличающийся улучшенной электронной колонной, большим увеличением и встроенной обработкой изображений для повышения качества получаемых изображений и лучшего разрешения. Идеально подходит для получения изображений морфологии поверхности, а в сочетании с EDS представляет собой мощный инструмент как для визуализации, так и для элементного анализа состава материалов.

Особенности SEM Motic NanoScan TT:

  • Простота в использовании
  • Высокое разрешение при увеличении 200 000 крат и 30 кВ
  • Компактный и лёгкий
  • Большой выбор аксессуаров
  • Высокая надежность и безопасность

Применение

Материаловедение – анализ структуры металлов, сплавов, композитов, керамики и полимеров.

Биология и медицина – изучение клеток, тканей, микроорганизмов, а также биосовместимых материалов.

Геология и минералогия – исследование горных пород, минералов, почв и метеоритов.

Электроника и нанотехнологии – контроль качества микросхем, нанопокрытий и микроструктур.

Металлургия и машиностроение – анализ изломов, дефектов, износа и коррозии поверхностей.

Криминалистика и судебная экспертиза – изучение следов, волокон, частиц и других микрообъектов.

Спецификация

Разрешение: 5nm@30kV (SE — вторичные электроны) 10nm@30kV (BSE- обратноотраженные)

Pre alignment of tungsten filament lamp with electron gun — функция выравния пучка

Детекторы: вторичные электроны(SE) обратноотраженные электроны(BSE)

Увеличение от 10X до 200000X

Ускоряющее напряжение 1 — 30kV

Рабочее расстояние 5 — 40mm

Размер столика для образцов X, Y:40mm,Z:5~40mm,T:- 90~90 ° (ручное), R: 360 °, X. Y, Z

Максимальный размер образца 80mm (D) × 40mm (H)

Навигационная оптическая камера

Время откачки:<90 секунд

Вакуумные режимы: Режим высокого вакуума (<9 × 10-3Pa)/Низкий вакуум

Система электроклапана вакуумного насоса (без компрессора)

Автоматическая вакуумная система Турбомолекулярный насос и форвакуумный насос

Рабочая станция на Windows 11 и 1 шт 24 » монитор

Режим фокусировки: 320 × 240 pixels

Режим предпросмотра: 800 × 600 pixels

Режим медленного сканирования: подходит

Режим изображения: до 3200 × 2400 pixels

Форматы изображений JPEG, Tiff, BMP, PNG

Встроенная антиыибрационная платформа

Опции

В зависимости от предполагаемой области применения Настольный сканирующий электронный микроскоп SEM Motic NanoScan TT может быть дополнительно оснащён:

Опционально доступен элементный анализ

Характеристики

Разрешение:

5 нм при 30 кВ (SE), 10 нм при 30 кВ (BSE)

Катод

Вольфрамовый термоэмиссионный

Ускоряющее напряжение

1–30 кВ

Файлы

Схема сборки

файл 2