info@scietex.ru +7 499 911 90 01

Настольный сканирующий электронный микроскоп SEM Motic NanoScan TT

Настольный сканирующий электронный микроскоп Motic Easy Nanoscan TT, отличающийся улучшенной электронной колонной, большим увеличением и встроенной обработкой изображений для повышения качества получаемых изображений и лучшего разрешения. Идеально подходит для получения изображений морфологии поверхности, а в сочетании с EDS представляет собой мощный инструмент как для визуализации, так и для элементного анализа состава материалов.

Описание

Настольный сканирующий электронный микроскоп Motic Easy Nanoscan TT, отличающийся улучшенной электронной колонной, большим увеличением и встроенной обработкой изображений для повышения качества получаемых изображений и лучшего разрешения. Идеально подходит для получения изображений морфологии поверхности, а в сочетании с EDS представляет собой мощный инструмент как для визуализации, так и для элементного анализа состава материалов.

Особенности SEM Motic NanoScan TT:

  • Простота в использовании
  • Высокое разрешение при увеличении 200 000 крат и 30 кВ
  • Компактный и лёгкий
  • Большой выбор аксессуаров
  • Высокая надежность и безопасность

Применение

Материаловедение – анализ структуры металлов, сплавов, композитов, керамики и полимеров.

Биология и медицина – изучение клеток, тканей, микроорганизмов, а также биосовместимых материалов.

Геология и минералогия – исследование горных пород, минералов, почв и метеоритов.

Электроника и нанотехнологии – контроль качества микросхем, нанопокрытий и микроструктур.

Металлургия и машиностроение – анализ изломов, дефектов, износа и коррозии поверхностей.

Криминалистика и судебная экспертиза – изучение следов, волокон, частиц и других микрообъектов.

Опции

В зависимости от предполагаемой области применения Настольный сканирующий электронный микроскоп SEM Motic NanoScan TT может быть дополнительно оснащён:

Опционально доступен элементный анализ

Характеристики

Разрешение:

5 нм при 30 кВ (SE), 10 нм при 30 кВ (BSE)

Катод

Вольфрамовый термоэмиссионный

Ускоряющее напряжение

1–30 кВ

Увеличение от:

10X до 200000X

Pre alignment of tungsten filament lamp with electron gun

функция выравнивания пучка

Детекторы:

вторичные электроны(SE) обратноотраженные электроны(BSE)

Рабочее расстояние

5 — 40mm

Размер столика для образцов

X, Y: 40mm

Z: 5~40mm

T: 90~90° (ручное)

R: 360°

X. Y, Z

Максимальный размер образца

80mm (D) × 40mm (H)

Навигационная оптическая камера

Время откачки:

<90 секунд

Вакуумные режимы:

Режим высокого вакуума (<9 × 10-3Pa)/Низкий вакуум

Система электроклапана вакуумного насоса (без компрессора)

Автоматическая вакуумная система

Турбомолекулярный насос и форвакуумный
насос

Рабочая станция на

Windows 11 и 1 шт 24 » монитор

Режим фокусировки:

320 × 240 pixels

Режим предпросмотра:

800 × 600 pixels

Режим медленного сканирования:

подходит
для предпросмотра и фокусировки

Режим изображения:

до 3200 × 2400 pixels

Форматы изображений

JPEG, Tiff, BMP, PNG

Встроенная антивибрационная платформа

Опционально доступен элементный анализ

Файлы

Брошюра SEM Motic Easy NanoScan