Просвечивающий электронный микроскоп TEM Scietex F200

Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением до 200 кВ и полевым эмиссионным источником, разработан специально для материаловедения, полупроводниковой промышленности и других областей науки. TEM Scietex F200 отличается высокой стабильностью и простотой в использовании. Отлично подойдет как для рутинных задач микроскопии, включая электронную дифракцию, так и для in-situ исследований.

1. Новая четырехступенчатая конструкция конденсорной системы, управляемая независимо, для контроля угла схождения и интенсивности электронного пучка для повышения качества получаемых изображений;
2. Большое межполюсное расстояние для проведения различных in-situ экспериментов.
3. Высокочувствительная CMOS камера 5120×3840
4. Простой в использовании с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом с обучающими видеоподсказками.

Нанотехнологии – изучение структуры наноматериалов, углеродных нанотрубок, графена.

Химия и материаловедение – анализ кристаллической решётки, дефектов, фазового состава.

Физика – исследование квантовых точек, сверхпроводников, тонких плёнок.

Биология и медицина – визуализация вирусов, белковых структур, клеточных органелл.

Полупроводниковая промышленность – контроль качества микросхем, микроэлектронных компонентов.

Металлургия – изучение дислокаций, границ зёрен, коррозионных процессов.

• Электронная пушка с автоэмиссионным катодом Шоттки высокой яркости
• Юстировка на 200 кВ и 80 кВ
• Подъёмный кран для электронной пушки
• Высоковольтный блок
• Высоковольтный кабель
• Камера нижнего монтажа EMSIS XAROSA CMOS
• Безмасляная вакуумная система
• Чиллер
• Компрессор
• 5-осевой моторизованный гониометр
• Апертура объективной линзы
• Апертура промежуточной линзы
• Одноосевой наклонный держатель образцов
• Двухосевой наклонный держатель образцов
• Блок управления с 24-дюймовым монитором

В зависимости от предполагаемой области применения Просвечивающий электронный микроскоп TEM Scietex F200 может быть дополнительно оснащён:

1. STEM-анализ
2. Крио-TEM
3. Томография
4. EDS-анализ