Рамановский микроскоп 532/638/785/1064 нм
Описание
КР-микроскоп (Рамановский микроскоп) — это оптическое устройство, которое удобно и эффективно сочетает в себе передовые технологические возможности КР-спектрометра и оптического микроскопа. Такой интегрированный прибор обладает критическим преимуществом по сравнению с обычными спектрометрами. В этой системе спектральный сигнал собирается из области микронного размера, освещаемой возбуждающим лазером. Таким образом, измерения могут быть сильно локализованы. Это позволяет осуществлять пространственное сканирование по всей поверхности образца, получая КР-спектры, собранные с различных поверхностных точек.
КР-спектральная визуализация — это мощный метод получения детального химического картирования, основанный на КР-микроскопии образца. Поскольку полный спектр комбинационного рассеяния света собирается в каждой точке измерения на образце, результирующий массив спектров позволяет построить цветовую визуализацию, отражающую состав и структуру материала. В частности:
- данные об интенсивности спектров комбинационного рассеяния света дают наглядное описание распределения плотности вещества;
- конкретное положение пика комбинационного рассеяния света в наборе спектров иллюстрирует молекулярную структуру и фазу, а также внутренние напряжения;
- ширина пика комбинационного рассеяния света раскрывает особенности кристаллической структуры и фазы.
Рамановский микроскопы Фотон-Био внесены в Реестр российской промышленной продукции( РРПП).
Применение
Выбор длины волны лазера в рамановском микроскопе
Одним из ключевых параметров при выборе рамановского микроскопа является длина волны возбуждающего лазера. Она влияет на интенсивность сигнала, уровень флуоресценции и спектральное разрешение. В микроскопах Фотон-Био возможно одновременное использование двух или трёх лазеров, что обеспечивает максимальную гибкость под разные типы образцов:
- Разные материалы по-разному реагируют на длины волн.
- Флуоресценция может «перекрывать» рамановский сигнал — особенно при коротких длинах волн.
- Возможность быстро переключаться между лазерами позволяет точно подобрать параметры под конкретную задачу.
Характеристики и назначение длин волн:
532 нм (зелёный лазер)
- Максимальная интенсивность рамановского сигнала;
- Высокое пространственное разрешение;
- Может вызывать сильную флуоресценцию в органике и биоматериалах;
- Рекомендуется для: неорганики, полупроводников, наноструктур, графена, пигментов.
638нм (красный лазер)
- Компромисс между чувствительностью и уровнем флуоресценции;
- Лучше подавляет фон, чем 532 нм, но чуть слабее сигнал;
- Подходит для: полимеров, фармацевтических препаратов, органики средней флуоресценции.
785 нм (ближний ИК)
- Сильное подавление флуоресценции;
- Универсальность для большинства органических веществ и биоматериалов;
- Меньшая интенсивность сигнала, чем у 532 нм;
- Оптимален для: тканей, биоматериалов, красителей, лекарств, сложных смесей.
1064 нм (ИК-диапазон)
- Максимальное подавление фона флуоресценции;
- Используется для: анализа образцов с сильной флуоресценцией, углеродистых материалов, органических пигментов.
Комбинированное использование лазеров
Использование нескольких лазеров в одной системе позволит:
- Расширить спектр применения одного прибора — от геологических до биологических образцов;
- Сравнивать спектры при разных условиях возбуждения;
- Минимизировать влияние фона за счёт подбора оптимальной длины волны.
Спецификация
- Рамановский комплекс на базе оптического микроскопа;
- Комплект объективов;
- Руководство по эксплуатации;
- Расходные материалы.
Опции
В зависимости от предполагаемой области применения, микроскоп может быть дополнительно оснащен:
- Конфигурация микроскопа лазерами под Ваши задачи
- Высокочувствительная Si-ПЗС-матрица с охлаждением до -15 °C обеспечивает превосходное качество спектров комбинационного рассеяния. Низкая температура детектора значительно снижает уровень шумов, что особенно важно при малом уровне сигнала. Это позволяет выкапливать сигнал длительное время и получать чистые и чёткие спектры. Охлаждение матрицы повышает параметр сигнал/шум в десятки раз и позволяет детектировать сигналы от таких сложных объектов, как биологические ткани, низкие концентрации химических субстанций, примеси в растворах. Таким образом, данная технология открывает новые возможности для получения высококачественных спектров комбинационного рассеяния для различных областей применения
- Микромеханическая сканирующая XY подвижка:
— Ход: 50 мм x 50 мм
— Разрешение: 1.25 мкм
— Точность повторного позиционирования: 1 мкм
— Джойстик для ручного управления
— ПО для проведения автоматической Рамановской картографии - SERS-подложки для усиления комбинационного рассеяния
- RLBD-full База рамановских спектров. Полная база данный спектров RamanLife (все разделы). 24581 спектров
- RLBD-mineral База рамановских спектров. Раздел «Минералы». 2122 спектра
- RLBD-inorganic База рамановских спектров. Раздел «Неорганические вещества». 1741 спектр
- RLBD-danger База рамановских спектров. Раздел «Опасные вещества». 766 спектров
- RLBD-organic База рамановских спектров. Раздел «Органические вещества». 15030 спектров
- RLBD-polymer База рамановских спектров. Раздел «Полимеры». 2207 спектров
- RLBD-pharma База рамановских спектров. Раздел «Фармацевтика». 2715 спектров.
Характеристики
532 nm и 638 nm
Спектральный диапазон
150 — 4000 cm-1
Спектральное разрешение
4 — 6 cm-1
Пространственное разрешение
определяется выбранным объективом: 5х, 10x, 20x, 50x, 100х
Опционально
— моторизованная сканирующая XY-подвижка с картографическим программным обеспечением
— комплект SERS-подложек
— библиотека, включающая более 20.000 КР-спектров
— высокочувствительная Si-ПЗС-матрица с охлаждением до -15 °C
785 nm
Спектральный диапазон
200 — 2700 cm-1
Спектральное разрешение
6 — 8 cm-1
Пространственное разрешение
определяется выбранным объективом: 5х, 10x, 20x, 50x, 100х
Опционально
— моторизованная сканирующая XY-подвижка с картографическим программным обеспечением
— комплект SERS-подложек
— библиотека, включающая более 20.000 КР-спектров
— высокочувствительная Si-ПЗС-матрица с охлаждением до -15 °C
1064 nm
Спектральный диапазон
150 — 1800 cm-1
Спектральное разрешение
6 — 8 cm-1
Пространственное разрешение
определяется выбранным объективом: 5х, 10x, 20x, 50x, 100х
Опционально
— моторизованная сканирующая XY-подвижка с картографическим программным обеспечением
— комплект SERS-подложек
— библиотека, включающая более 20.000 КР-спектров
— высокочувствительная Si-ПЗС-матрица с охлаждением до -15 °C
Рамановский комплекс может быть построен на базе одного из следующих микроскопов:
Поляризационный микроскоп ADF U300P
Увеличение до 900 крат, латеральное разрешение до 1 мкм. Поляризационный прямой микроскоп с возможностью работы в двух режимах: только в отраженном (RL) или отраженном и проходящем свете (RL/TL). Доступна версия с тринокулярным тубусом и цифровой камерой. Подходит для проведения контроля образцов в сферах минералогии, петрографии, материаловедения и естественных наук. Позволяет измерять углы поляризации и анализировать минералогический состав шлифа.
Универсальный микроскоп для микроэлектроники ADF U300M
Увеличение до 1500 крат, латеральное разрешение до 0,4 мкм Универсальный прямой микроскоп ADF U300M с возможностью работы в двух режимах: только в отраженном (RL) или отраженном и проходящем свете (RL/TL). Доступна версия с тринокулярным тубусом и цифровой камерой. Подходит в качестве инспекционной системы, микроскопа для контроля шлифов или металлографического микроскопа. Удобен для исследования минералов и прозрачных материалов.
Прямой микроскоп ADF E300M
Увеличение до 1500 крат, латеральное разрешение до 0,35 мкм Прямой микроскоп ADF E300M с возможностью работы в двух режимах: только в отраженном (RL) или отраженном и проходящем свете (RL/TL). Возможность установки объективов различных классов коррекции для достижения необходимого качества изображения. Работа в светлом и темном поле, реализация DIC-контраста и поляризации. Доступна версия с тринокулярным тубусом с цифровой камерой. Подходит для изучения декорпусированных деталей, а также для решения задач материаловедения. Работа в светлом поле позволяет проводить детализацию структуры и топологии. А темное поле позволяет проводить контроль дефектов.