Новая отечественная разработка для высокоточного контроля толщины и массы!

Мы рады представить новую отечественную разработку нашей компании — серию кварцевых весов QCM-Series для систем пробоподготовки в электронной микроскопии и не только.
Кварцевые весы QCM-Series — это идеальное решение для прецизионного измерения и контроля толщины пленок, а также мониторинга массы в режиме реального времени. Это продукт для тех, кто стремится устанавливать новый стандарт точности в исследовательских и промышленных технологических процессах своих лабораторий, одновременно совмещая это с простотой интеграцией новых продуктов.

Весы предназначены для широкого спектра применения:

● Научные исследования: Изучение процессов адсорбции, разработка биосенсоров, исследование тонких пленок.
● Промышленность: Контроль толщины напыляемых покрытий (металлических, диэлектрических) в вакуумных установках, мониторинг процессов в химической технологии и фармацевтике.
● Разработка и производство: Точный контроль технологических процессов нанесения пленок в микроэлектронике и производстве оптики.

Весы прошли все испытания, готовы к заказу и поставке уже сейчас!

Оставляйте Ваши заявки на почте info@scietex.ru или заполняйте заявку на сайте, ждем Ваши вопросы!

В каталоге представлены также и другие новые разработки нашей компании, не пропустите!

Scietex Van der Pauw TFRS — установка для измерения удельного сопротивления.

DLTS-спектрометр — для исследования глубоких центров в полупроводниковых структурах, работающий по методу DLTS.

Познакомиться с продуктом можно будет на выставке Аналитика Экспо с 22 — 24 апреля 2026 года.
МВЦ «Крокус Экспо», павильон 3, зал 14, Москва