Сопутствующее оборудование
Сопутствующее оборудование для электронной микроскопии включает аналитические и измерительные системы, которые расширяют возможности лабораторных исследований. Такие приборы применяются для измерения удельного сопротивления тонких пленок, анализа глубоких уровней в полупроводниковых структурах, а также контроля толщины и массы покрытий в режиме реального времени.
Оборудование используется в материаловедении, микроэлектронике, полупроводниковой промышленности, тонкопленочных технологиях и исследовательских лабораториях.
Scietex Van der Pauw TFRS — установка для измерения удельного сопротивления
Новая разработка — установка для измерения удельного сопротивления тонкопленочных материалов методом Ван дер Пау. Изготавливаются в РФ под заказ. Компания ООО «Научные Технологии и сервис» запустила на рынок в 2026 году.
DLTS-спектрометр
Универсальный DLTS-спектрометр для исследования глубоких центров в полупроводниковых структурах, работающий по методу DLTS. Изготавливается в РФ под заказ. Компания ООО «Научные Технологии и сервис» представила спектрометр собственного производства на рынке в 2026 году.
Кварцевые весы QCM-Series
Кварцевые весы QCM-Series. Высокоточный контроль толщины и массы в режиме реального времени. Изготавливаются в РФ под заказ. Компания ООО «Научные Технологии и сервис» запустила на рынок в 2026 году.
