Сканирующий электронный микроскоп Scietex W30-69

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом Scietex W30-69 обладает превосходным качеством изображения, широким спектром аксессуаров и возможностями автоматизации. Доступна версия с низким вакуумом или увеличенной рабочей камерой. Scietex W30-69 предусматривает возможность расширения аналитических возможностей системы. Микроскоп может быть оснащен энергодисперсионным рентгеновским спектрометром EDS для элементного анализа, а также дополнительными модулями и специализированными держателями образцов.

Особенности:

1. Оптическая навигация: настройка фокуса, оптическое увеличение до 100×, быстрое позиционирование (ROI)
2. Модуль точной многофункциональной настройки: вращение и точная настройка увеличения, настройка фокуса, регулировка яркости и контраста, электронная регулировка совмещения, коррекция астигматизма, электронная настройка смещения и т. д.
3. Детектор вторичных электронов в низком вакууме: В режиме низкого вакуума возможно исследование ряда непроводящих образцов, например, биологических без нанесения проводящего покрытия.

Сканирующий электронный микроскоп Scietex W30-69 может использоваться для:

• исследования морфологии и микроструктуры материалов;
• анализа поверхности металлов и сплавов;
• исследования покрытий и поверхностных дефектов;
• анализа порошков, частиц и композиционных материалов;
• исследования керамики, минералов и геологических образцов;
• контроля микроструктуры электронных компонентов;
• исследования полупроводниковых материалов;
• анализа причин разрушения и дефектов;
• проведения элементного анализа при оснащении системой EDS.

• Катод LaB6
• SED при низком вакууме
• BSED при низком вакууме