info@scietex.ru +7 499 911 90 01

Сканирующий электронный микроскоп Scietex W30-69

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом Scietex W30-69 обладает превосходным качеством изображения, широким спектром аксессуаров и возможностями автоматизации. Доступна версия с низким вакуумом или увеличенной рабочей камерой.

Описание

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом Scietex W30-69 обладает превосходным качеством изображения, широким спектром аксессуаров и возможностями автоматизации. Доступна версия с низким вакуумом или увеличенной рабочей камерой.

Особенности:

Оптическая навигация: Настройка фокуса, Оптическое увеличение до 100×, Быстрое позиционирование (ROI)

Модуль точной многофункциональной настройки: вращение и точная настройка увеличения, настройка фокуса, регулировка яркости и контраста, электронная регулировка совмещения, коррекция астигматизма, электронная настройка смещения и т. д.

Детектор вторичных электронов в низком вакууме: режим низкого вакуума позволяет наблюдать непроводящие образцы, например биологические, получая высококачественные изображения без специальной обработки образца или платы, без покрытия.

Опции

Катод LaB6

SED при низком вакууме

BSED при низком вакууме

Характеристики

Разрешение:

3нм при 30 кВ

8нм при 3кВ (SE)

4нм при 30кВ (BSE)

Увеличение:

1х — 300 000х

Функция низкого вакуума:

Уровень вакуума 10-270 Па

Электронная пушка:

Преднастроенная вольфрамовая нить

Напряжение ускорения

0.2-30 кВ

Вакуумная система:

Турбо — молекулярный насос + механический насос

Детекторы:

Детектор вторичных электронов

Детектор BSE из полупроводников

Инфракрасный CCD

Координатный стол:

W30-69LV: 5-осевой стол, Диапазон перемещения: X=80 мм, Y=50 мм, Z=30 мм, R=360°

T=-5°~+70°

W30-69L: 5-осевой стол, Диапазон перемещения: X=150мм, Y=150мм, Z=65мм, R=360°

T=-10°~+90°

Характеристики образца:

Макс. диаметр: 175мм

Макс. высота: 40мм

Дополнительные аксессуары EDS/ EBSD/ STEM/ CL/EBL и т.д.

Стенд нагрева/охлаждения/растяжения и т.д.