Сканирующие электронные микроскопы
Сканирующие электронные микроскопы SEM предназначены для получения высокоразрешающих изображений поверхности образцов за счет регистрации сигналов, возникающих при взаимодействии электронного пучка с материалом. Метод позволяет исследовать топографию, микроструктуру, морфологию частиц, дефекты, покрытия, изломы и элементы микро- и наноструктур.
В зависимости от конфигурации микроскопы могут использоваться для работы в различных вакуумных режимах, элементного анализа, измерения критических размеров и автоматизированного контроля образцов.
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H обеспечивает высокое разрешение и производительность работы в том числе в аналитических приложениях благодаря использованию полностью оригинальной электронно-оптической системы собственной разработки и других интеллектуальных разработок.
Сканирующий электронный микроскоп Scietex W30-69
Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом Scietex W30-69 обладает превосходным качеством изображения, широким спектром аксессуаров и возможностями автоматизации. Доступна версия с низким вакуумом или увеличенной рабочей камерой.
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.
Сканирующий электронный микроскоп Scietex CD-SEM для измерения критических размеров
CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) — сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для измерения критических размеров в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности.
