Сканирующие
Сканирующий электронный микроскоп Scietex CD-SEM для измерения критических размеров
CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) — сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для измерения критических размеров в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности.
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30
Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 обеспечивает высокое разрешение и производительность работы в том числе в аналитических приложениях благодаря использованию полностью оригинальной электронно-оптической системы собственной разработки и других интеллектуальных разработок.
