Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.

В SEM Scietex F12 применяются детекторы с прямым преобразованием электронов, которые помогают преодолевать ограничения обычных электронных микроскопов по скорости, точности и повреждению образца. Таким образом сканирующий электронный микроскоп превращается из традиционной нано-«камеры» в нано-«видеокамеру». SEM Scitex F12 также прост в эксплуатации, обладая полностью автоматизированным переключением между образцами одним щелчком и способностью к круглосуточной автономной работе, что значительно повышает эффективность исследований.

SEM Scietex F12 может быть особенно полезен в таких областях, как науки о жизни, исследование материалов, полупроводниковая промышленность и геологические ресурсы. Он имеет значительные преимущества в 3D-реконструкции в нейробиологии, характеристике и анализе материалов большой площади, реверс-инжиниринге полупроводников и анализе нанотехнологий.

Особенности SEM Scitex F12:

• Быстрая визуализация.
• Высокое качество изображения
• Кросс-масштабная визуализация образцов с большой площадью поверхности
• Интеллектуальный анализ
• Простота в эксплуатации

Нанотехнологии – изучение структуры наноматериалов, углеродных нанотрубок, графена.

Химия и материаловедение – анализ кристаллической решётки, дефектов, фазового состава.

Физика – исследование квантовых точек, сверхпроводников, тонких плёнок.

Биология и медицина – визуализация вирусов, белковых структур, клеточных органелл.

Полупроводниковая промышленность – контроль качества микросхем, микроэлектронных компонентов.

Металлургия – изучение дислокаций, границ зёрен, коррозионных процессов.