Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12 - Научные технологии и сервис
info@scietex.ru +7 499 911 90 01

Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12
  • Тип катода: Автоэмиссионный термополевой типа Шоттки
  • Разрешение: 1,5 нм при 1 кВ, 1,3 нм при 3 кВ
  • Увеличение: 500×  600 000×
  • Ускоряющее напряжение: 0,1–12 кВ

Описание

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.

В SEM Scietex F12 применяются детекторы с прямым преобразованием электронов, которые помогают преодолевать ограничения обычных электронных микроскопов по скорости, точности и повреждению образца. Высокая скорость формирования изображения расширяет возможности СЭМ от статической визуализации до наблюдения быстропротекающих процессов. SEM Scietex F12 также прост в эксплуатации, обладая полностью автоматизированным переключением между образцами одним щелчком и способностью к круглосуточной автономной работе, что значительно повышает эффективность исследований.

SEM Scietex F12 может быть особенно полезен в таких областях, как науки о жизни, исследование материалов, полупроводниковая промышленность, геология и минералогия. Он имеет значительные преимущества в 3D-реконструкции в нейробиологии, характеристике и анализе материалов большой площади, реверс-инжиниринге полупроводников и исследовании морфологии, структуры и особенностей поверхности наноматериалов и наноструктур.

Особенности SEM Scietex F12:

  • Быстрая визуализация.
  • Высокое качество изображения
  • Мультимасштабная визуализация образцов с большой площадью поверхности
  • Интеллектуальный анализ
  • Простота в эксплуатации

Применение

Нанотехнологии – изучение структуры наноматериалов, углеродных нанотрубок, графена.

Химия и материаловедение – анализ кристаллической решётки, дефектов, фазового состава.

Физика – исследование квантовых точек, сверхпроводников, тонких плёнок.

Биология и медицина – визуализация вирусов, белковых структур, клеточных органелл.

Полупроводниковая промышленность – контроль качества микросхем, микроэлектронных компонентов.

Металлургия – изучение дислокаций, границ зёрен, коррозионных процессов.

Характеристики

Катод

Высокостабильный катод с полевой эмиссией типа Шоттки

Разрешение

1,5 нм при 1 кВ; 1,3 нм при 3 кВ

Ускоряющее напряжение

0,1–12 кВ

Ток пучка

50 пА – 30 нА

Объективная линза

Электромагнитная линза с функцией замедления пучка (BD mode)

Увеличение

500×–600 000×

Рабочее расстояние

1,5 мм

Максимальное поле зрения

100 мкм — 1 мм

Столик

X=150 мм, Y=150 мм, Z=20 мм (5 кг)

Детекторы

In-column SE; In-lens BSE

Скорость съемки SE и BSE

100 Мпикс/с