Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H

Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H обеспечивает высокое разрешение и производительность работы в том числе в аналитических приложениях благодаря использованию полностью оригинальной электронно-оптической системы собственной разработки и других интеллектуальных разработок.

Микроскоп SEM Scietex F30 и F30H достигает нанометрового разрешения промышленного стандарта, оснащен высокоскоростной мультидетекторной системой сканирования для одновременного получения изображений с сигналами SE и BSE, поддерживает множество режимов работы для применения в науках о жизни, материаловедении, анализе отказов и геологии.

Особенности SEM Scietex F30:
· Высокое разрешение, широкий диапазон изменения энергии электронов первичного пучка, сверхширокое поле зрения, обеспечивающее съемку в широком диапазоне увеличений от макро- до микромасштабов.
· Высокоскоростная мультидетекторная система сканирования и захвата изображения, поддерживающая сигналы SE и BSE, а также работу с EDS, EBSD, CL и другими аналитическими аксессуарами.
· Внутрилинзовый детектор с энергетическим фильтром вторичных электронов, высокочувствительные детекторы для качественной скоростной съемки, постобработка изображений в реальном времени включая вывод цветного изображения.
· Эффективное шумоподавление и повышение резкости изображения без потери ключевой информации.
· Оптимизированная система выравнивания пучка с полной навигацией по образцу, автоматической настройкой яркости, контраста и фокусировки.

Особенное отличие F30Н от F30

Функция замедления пучка электронов – для изучения чувствительных образцов и работы с низким ускоряющим напряжением для получения более детальной информации о поверхности материала, его топографии и морфологии.

Материаловедение – анализ структуры металлов, сплавов, композитов, керамики и полимеров.

Биология и медицина – изучение клеток, тканей, микроорганизмов, а также биосовместимых материалов.

Геология и минералогия – исследование горных пород, минералов, почв и метеоритов.

Электроника и нанотехнологии – контроль качества микросхем, нанопокрытий и микроструктур.

Металлургия и машиностроение – анализ изломов, дефектов, износа и коррозии поверхностей.

Криминалистика и судебная экспертиза – изучение следов, волокон, частиц и других микрообъектов.

В зависимости от предполагаемой области применения Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H может быть дополнительно оснащён:

• BSE
• InLens BSE
• Система быстрой загрузки образцов (Air Lock, Sample Exchange Warehouse)
• Column built-in energy filter ExB
• Beam Gate & Electron Beam Exposure
• Large Image Stitching Software
• Particle Analysis Software
• Источник бесперебойного питания
• Термостолик
• Tensile/Compression test table