info@scietex.ru +7 499 911 90 01

6 февраля, 2026

Серия онлайн-вебинаров, посвящённых электронной микроскопии

Серия онлайн-вебинаров, посвящённых электронной микроскопии

Компания ООО «Научные технологии и сервис» в Феврале-Марте 2026 года планирует серию онлайн вебинаров, посвящённых электронной микроскопии и методам исследования материалов, тонких плёнок, биологических и полупроводниковых структур.

Вебинары ориентированы на тех, кто использует в работе или планирует работать со сканирующей (SEM), двулучевой (DBS) и просвечивающей электронной микроскопией (TEM), а также использует современные методы электрофизической диагностики материалов.

В вебинарах будет представлен практический разбор возможностей электронных микроскопов и сопутствующего оборудования Scietex, его конфигураций и применения для реальных научных и прикладных задач.

Серия вебинаров будет полезна специалистам лабораторий электронной микроскопии, студентам технических и естественно-научных факультетов, инженерам и исследователям в области биологии, геологии, материаловедения и микроэлектроники, сотрудникам R&D-центров и научно-исследовательских организаций, руководителям лабораторий и научно-образовательных учреждений.

Программа серии вебинаров:

1. Сканирующая электронная микроскопия Scietex и пробоподготовка.

26.02.2026 в 11:00 (МСК)

Вебинар посвящён сканирующей электронной микроскопии (SEM) и ключевым аспектам пробоподготовки, которые напрямую влияют на качество изображений и аналитических данных.

В рамках вебинара Ольга Соколова представит наше портфолио сканирующих электронных микроскопов Scietex, от настольных до высокоразрешающих FEG версий. Покажет варианты электронных микроскопов для биологических и скрининговых задач, для материаловедения и геологии, а также специализированные микроскопы для анализа критических размеров в микроэлектронике. Продемонстрируем возможности SEM Scietex на примере реальных задач.

Дарья Стельмах рассмотрит основные этапы пробоподготовки образцов для SEM, влияние подготовки образца на разрешение, контраст и повторяемость результатов. Представит портфолио линейки систем пробоподготовки собственного производства компании ООО «Научные технологии и сервис». Рассмотрим системы напыления металлов и углерода серии C156, а также системы активации поверхности GD156R, как ключевое звено в основе пробоподготовки для электронной микроскопии.

2. DLTS, Van der Pauw, QCM: золотой набор методов для исследования полупроводников, тонких плёнок и наноструктур.

12.03.2026 в 11:00 (МСК)

Вебинар посвящён ключевым методам электрического и структурного анализа, применяемого в исследованиях полупроводниковых материалов и тонкоплёночных систем.

Антон Бондаренко в программе вебинара расскажет о собственных разработках компании ООО «Научные технологии и сервис» в области анализа полупроводников и наноструктур.

DLTS-спектрометрия и её применение для исследования глубоких центров, дефектов и ловушек в полупроводниковых структурах.

метод Van der Pauw для измерения электрических параметров и удельного сопротивления тонкопленочных материалов.

Кварцевые весы QCM-Series для высокоточного контроля толщины и массы в режиме реального времени, контроля толщины и скорости осаждения плёнок. Рассмотрим практические примеры использования методов в лабораторных условиях, проведем обзор измерительного оборудования и рекомендации по его выбору.

3. Просвечивающая электронная микроскопия Scietex — новые TEM в России.

26.03.2026 в 11:00 (МСК)

Вебинар посвящён просвечивающей электронной микроскопии (TEM) и современным решениям Scietex, доступным для российских лабораторий. Ольга Соколова расскажет о возможностях, опциях и технических аспектах новой линейки просвечивающих микроскопов TEM Scietex и их ключевые характеристики. Поделится информацией непосредственно с фабрик и производственных площадок.

Рассмотрим области применения TEM в научных и прикладных исследованиях особенности выбора, практические аспекты эксплуатации TEM в лаборатории.

Почему стоит принять участие в наших вебинарах?

  • Участники вебинаров получат практический разбор оборудования и методик в области электронной микроскопии.
  • Увидят демонстрацию возможностей SEM и TEM на реальных примерах;
  • Получат экспертные рекомендации по выбору конфигураций, актуальную информацию о доступных решениях на рынке России
  • Получат возможность задать вопросы специалистам и получить адресные ответы.

формат: онлайн-вебинары
участие: по предварительной регистрации
доступ: из любой точки мира

После регистрации участникам будет направлена ссылка за день до мероприятия.

Зарегистрируйтесь на вебинары Scietex заранее и получите адресные ответы на интересующие Вас вопросы!