Двулучевые микроскопы
Двулучевые микроскопы FIB-SEM объединяют возможности сканирующей электронной микроскопии и сфокусированного ионного пучка в одной системе. Такое оборудование используется для высокоточного анализа структуры материалов, локальной модификации поверхности, подготовки тонких срезов, исследования микродефектов и работы с микро- и наноструктурами.
Двулучевой электронный микроскоп Scietex FIB-SEM Y30
Scietex FIB-SEM Y30 - полностью автоматизированная двулучевая система с электронной колонной UHR-SEM и фокусированным ионным пучком на основе источника Ga. Прибор предназначен для прецизионной пробоподготовки, сверхвысокоразрешающей СЭМ-визуализации, 3D-реконструкции, микро- и нанообработки, а также решения задач прототипирования.
