Новая серия вебинаров по электронной микроскопии: SEM, TEM, CD-SEM и пробоподготовка

ООО «Научные технологии и сервис» приглашает посетить серию онлайн-вебинаров, посвящённых оборудованию для электронной микроскопии, пробоподготовки и исследования электрофизических характеристик материалов.

В рамках четырёх встреч мы представим актуальное портфолио оборудования: сканирующие и просвечивающие электронные микроскопы Scietex, специализированные CD-SEM для микроэлектроники и полупроводников, а также собственные разработки ООО «Научные технологии и сервис» для пробоподготовки в электронной микроскопии и исследования полупроводников, тонких плёнок и других материалов.

Расскажем о доступных моделях и конфигурациях, ключевых технических возможностях оборудования, дополнительных опциях и областях применения. Отдельное внимание уделим актуальным решениям и возможностям комплексного оснащения лабораторий.
Участники смогут подробнее познакомиться с оборудованием, сравнить различные варианты исполнения и задать специалистам вопросы по комплектации и возможностям систем.

Выбрать вебинары и зарегистрироваться

Программа серии вебинаров

1. Сканирующая электронная микроскопия Scietex и пробоподготовка

1.10.2026 в 11:00 (МСК)

Спикеры: Ольга Соколова (директор по продажам) и Дарья Стельмах (ведущий специалист)

Первый вебинар будет посвящён портфолио оборудования для сканирующей электронной микроскопии и подготовки образцов.

Представим линейку сканирующих электронных микроскопов Scietex: от компактных настольных систем до полноразмерных лабораторных и высокоразрешающих моделей.

В ходе вебинара рассмотрим:

• основные модели SEM Scietex;
• различия между доступными конфигурациями;
• рабочие параметры и технические возможности;
• детекторы и аналитические возможности;
• дополнительные опции и оснащение;
• области применения различных моделей.

Вторая часть встречи будет посвящена оборудованию для пробоподготовки.

Представим системы собственной разработки и производства ООО «Научные технологии и сервис»: установки нанесения металлических и углеродных покрытий серии C156, системы плазменной активации поверхности GD156R, а также доступные конфигурации и дополнительное оснащение.

Покажем, какие решения можно подобрать для комплексного оснащения лаборатории электронной микроскопии: от подготовки образца до его исследования в SEM.

2. CD-SEM — передовые электронные микроскопы для микроэлектроники и полупроводников

8.10.2026 в 11:00 (МСК)

Спикер: Антон Бондаренко (технический директор)

Вебинар будет посвящён CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) — специализированным сканирующим электронным микроскопам для задач микроэлектроники и полупроводниковой промышленности.

Представим решения Scietex для исследования микроструктур, контроля критических размеров и работы с полупроводниковыми пластинами.

В рамках вебинара рассмотрим:

• задачи контроля критических размеров;
• измерение геометрических параметров микро- и наноструктур;
• анализ топологии поверхности;
• работу с полупроводниковыми пластинами;
• особенности CD-SEM по сравнению с универсальными сканирующими электронными микроскопами;
• доступные конфигурации и возможности оборудования Scietex.

Отдельное внимание уделим точности и воспроизводимости измерений, стабильности работы системы и возможностям автоматизации контроля — параметрам, которые имеют особое значение при работе с микроэлектронными и полупроводниковыми структурами.

3. DLTS, Van der Pauw, QCM: золотой набор методов для исследования полупроводников, тонких плёнок и наноструктур

15.10.2026 в 11:00 (МСК)

Спикер: Алексей Кудрявцев (инженер-разработчик)

Вебинар будет посвящён аналитическому оборудованию для исследования полупроводников, тонких плёнок и наноструктур.

Представим собственные разработки ООО «Научные технологии и сервис» для исследований методами DLTS, Van der Pauw и QCM, расскажем о возможностях оборудования, доступных конфигурациях и вариантах применения.

Покажем, как представленные системы позволяют решать задачи электрофизической диагностики материалов, исследования дефектов и носителей заряда, а также контроля процессов формирования тонких покрытий.

Участники смогут познакомиться с актуальным портфолио аналитического оборудования и обсудить подбор системы под задачи своей лаборатории.

4. Просвечивающая электронная микроскопия Scietex — новые TEM в России

22.10.2026 в 11:00 (МСК)

Спикеры: Ольга Соколова (директор по продажам) /Антон Бондаренко (технический директор)

Вебинар серии посвящён просвечивающей электронной микроскопии (TEM, ПЭМ) и портфолио просвечивающих электронных микроскопов Scietex.

Представим актуальный модельный ряд TEM, основные варианты конфигураций и возможности оборудования для научных и прикладных исследований.

В программе:

• модельный ряд TEM Scietex;
• основные технические характеристики;
• режимы получения и анализа изображений;
• аналитические возможности;
• детекторы и дополнительное оснащение;
• варианты конфигураций;
• области применения просвечивающей электронной микроскопии.

Расскажем, чем отличаются представленные модели и конфигурации, какие задачи позволяют решать различные варианты оснащения и на какие характеристики стоит обратить внимание при подборе просвечивающего электронного микроскопа для лаборатории.

Четыре вебинара — четыре направления оборудования

Серия онлайн-вебинаров позволит подробно познакомиться с ключевыми направлениями нашего портфолио:

• SEM Scietex и оборудование для пробоподготовки;
• CD-SEM для микроэлектроники и полупроводников;
• DLTS, Van der Pauw и QCM;
• TEM Scietex.

Мы покажем не только отдельные модели оборудования, но и возможные варианты их конфигурации и оснащения под различные исследовательские задачи.

Кому будут полезны вебинары

Серия ориентирована на специалистов лабораторий электронной микроскопии и материаловедения, инженеров, исследователей, сотрудников R&D-центров и научно-исследовательских организаций, специалистов микроэлектронной и полупроводниковой отрасли, а также руководителей лабораторий, занимающихся подбором и модернизацией приборной базы.

Вебинары также будут полезны тем, кто планирует приобретение оборудования и хочет сравнить доступные решения, разобраться в вариантах комплектации и обсудить техническую задачу со специалистами.

Регистрация на вебинары по электронной микроскопии

Формат: онлайн
Участие: по предварительной регистрации.

Можно зарегистрироваться на один интересующий вебинар или принять участие во всей серии.

После регистрации на почту участников будет направлена информация для подключения.

Во время каждой встречи можно будет задать вопросы специалистам ООО «Научные технологии и сервис» и обсудить оборудование применительно к задачам вашей лаборатории.

Зарегистрируйтесь заранее и выберите интересующие направления программы.
До скорой встречи на вебинаре!