Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F30 и F30H обеспечивает высокое разрешение и производительность работы в том числе в аналитических приложениях благодаря использованию полностью оригинальной электронно-оптической системы собственной разработки и других интеллектуальных разработок.

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом Scietex W30-69 обладает превосходным качеством изображения, широким спектром аксессуаров и возможностями автоматизации. Доступна версия с низким вакуумом или увеличенной рабочей камерой.

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.

CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) — сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для измерения критических размеров в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности.